低価格かつ柔軟性・拡張性に優れたRF通信用ICテスタ、生産ライン用ICテスタのご要望を実現
複数プロトコルの試験に対応するRF－ICテスタ
クライアント名・業種：大手半導体メーカー 様
導入システム・製品：RF-ICテスタ
ご依頼の背景
スマートフォンに代表される情報通信機器へ搭載されるRF通信用ICテスタや、それらを組み合わせたモジュールの生産ライン用ICテスタは現状非常に高価であり、より低コストで柔軟性・拡張性に優れた製品が求められています。そこで今回、当社は大手半導体メーカー様からのご要望にお応えする形で、試験コストを抑え、かつ複数の無線プロトコルで試験が可能なPXIベースのRF－ICテスタ構築に挑戦しました。
導入前の課題と当社から提供したソリューション
本体コスト＆テストコスト低減
課題
テスタ本体のコストに加え、試験タクトタイム短縮によるテストコストの劇的な低減が求められました。そのためには、一般のテスタとは異なるハードウエア構成を新たに考える必要がありました。
ソリューション
最小限の構成でテスト可能なPXIの採用で、ハードウェアコストを最大限削減。また、高速制御可能なPXIによるタクトタイム短縮も実現しました。さらに短縮が要求される場合は、PXI7R－ドの追加やMIMO構成への変更、DUTの同時測定で対応が可能に。
複数の通信規格・各種特性試験に対応可能
課題
RFデバイスは他国での使用が想定されるため、WCDMA、LTE、GSM、GPS信号といったさまざまな無線プロトコルに対応する必要がありました。さらに、それぞれに応じて複数のプロトコルで特性試験を行う必要もありました。
ソリューション
PXI-VSG、VSAおよび信号計測ツールキットの採用によって、ハードウエアを追加することなく、ソフトウエアで複数の通信規格に対応。一台のテスタでWCDMA、HSPA、LTE、GPS信号などの各種特性試験を可能としています。
NI社製品とLabVIEWで期間を短縮
課題
生産数および生産ラインで実施する試験項目は、半導体メーカ十が抱えるエンドユーザのニーズに依存するため流動的。設計部隊の評価結果やエンドユーザとの交渉が決定のタイミンクとなるため、短期間の立ち上げが求められました。
ソリューション
ハ－ドゥエアは、生産数・試験項目が決定した段階で必要最小限のPXIボードを購入。ソフトウェアは、豊富な標準関数およびツールキットが使用可能なLabVIEWおよぴNI TestStandを採用することで、短納期でも問題なく対応できました。
導入効果のまとめ
本体＆テストコスト削減
複数の無線プロトコルへ対応
NI社製品による開発期間短縮
本件では、劇的なコスト削減と複数の無線プロトコルへの対応を、短期間のうちに完了しました。これは、NI社製品の採用によるところが大きいと考えられます。また、拡張性の高いPXIの採用はテストコストの増大を抑え、評価から生産まで一貫した同一システム使用を可能に。フェーズ間の相関も容易に取れることから、開発期間の短縮へ多大に寄与したと言えるでしよう。
システム概要
- PXIe-5673 ベクトルシグナルジェネレータ(VSG)
- PXIe-5663 ベクトルシグナルアナライザ(VSA)
- PXIe-5630 ベクトルネットワークアナライザ(VNA)
