ペリテックでは、NI製品を採用し、ICテスタの機能を市販製品の1/10コストで構築。オリジナルブランド「ECOIC」としてご提供しています。
市販のICテスターは数千万という非常に高価でありながら、実際にはその一部の機能しか使われていませんでした。
そこで、ペリテックでは本当に必要な機能のみを構築していくことを可能にし、高性能、短期間の開発、そして低コストで完成する仕組みを作り上げました。
NI SwitchをLabVIEW RTで使用したICテスタの開発
ICテスタの開発事例を紹介します。NI-SwitchとNI-DMM、PXIを使用して、コンパクトでかつノイズに強い試験装置を開発することができました。
ダイレクト温調式 高温・低温検査装置
PEREX-1は、ペルチェ素子を用いた温度制御ユニットを搭載し、対象デバイスに直接接続して加熱・冷却を行う検査装置です。独自の加圧機構により、最大200kgの荷重をかけながら、精密かつ高速な温度変化を与えることができ、特性評価・信頼性試験・…
ミリ波ビームフォーミングデバイス向け生産ライン用OTA自動評価システム
この製品は半導体試験工程のRFテストを自動化する革新的なシステムソリューションです。電子制御式「Xbeam」を使用することで、テスト時間を数秒単位にまで短縮し、生産ラインのタクトタイムを大幅に改善します。 製品の特徴 自動試験フロー
3V電源のICに対応したテスターの開発
3V電源のICに対応したテスターの開発事例を紹介します。端子ダイオードテスト、端子ショートテスト。電圧計測、電流計測、周波数計測、波形解析など45項目の検査を行ってICの正常動作を確認
高速ICテスターの開発
NI PXIを駆使した高速ICテスターの開発事例を紹介します。1. セットアップ・ホールドタイム試験機能の実現。2. ファンクション試験機能の実現。3. 高速かつ大量なデータパターンの出力機能の実現。4. DCパラメータの試験機能の実現
ワイヤレスデバイステストソリューション
このソリューションはワイヤレスデバイスを対象とした自動試験計測システムです。様々なワイヤレスの規格を完全自動試験計測を行うことが可能で、ワイヤレス・デバイスシステムの生産ラインなどのカスタマイズされたアプリケーションも利用することが出来ます…
自動ユニバーサルワイヤレステスト装置UWT-7000-CUSTOM
各種無線規格対応の通信機器をユニット別で全自動検査可能。またライン化などにも対応し、カスタマイズによって検査デバイスの供給→基板分割→検査→収納までの制御が可能です。 ハンドラ側仕様 供給/収納 ご要望に合わせてカスタマイズ可能 無線テス…
自動システムレベルテスト装置SLT-7000-STANDARD
最先端のシステムレベルテストを実現。チップの多ピン化、大型化に対応し、ベースユニットを増設することによりお客様の要望に合わせた構成にセミカスタマイズすることが可能です。 ハンドラ側仕様 温度コントロール 次世代ペルチェダイレクト方式 温度…
PXIを使用したICテストシステム
ペリテックが提供するPXIベースのICテストシステムは、デジタルパターン計測器と高精度な電源を活用し、ICの評価を効率的に自動化できるシステムです。このシステムは、異なるICデバイスにも対応できる柔軟な構成を持ち、評価の対象を自由にカスタマ…
次世代高温低温測定ハンドラー
高温低温測定ハンドラーシステムは、電子機器や材料の耐久性、性能を評価するために、極端な温度条件での試験を行う為の装置です。このシステムは特に半導体デバイスやその他の電子部品の信頼性において重要な役割を果たします。 製品の特徴