自動システムレベルテスト装置SLT-7000-STANDARD
最先端のシステムレベルテストを実現。チップの多ピン化、大型化に対応し、ベースユニットを増設することによりお客様の要望に合わせた構成にセミカスタマイズすることが可能です。
ハンドラ側仕様
| 温度コントロール | 次世代ペルチェダイレクト方式 |
| 温度レンジ | -60℃～145℃ |
| 荷重 | 300㎏ |
| テストユニット数 | カスタマイズ可能 ※ベースユニットを増設可能 ※多段構造により装置の小型化を実現 |
| 供給/収納 | カスタマイズ可能 |
| 稼働方式 上位通信 | 完全自動稼働 ご要望に合わせて対応可能 |
テスタ側仕様
| 測定器 | NI PXIシステム(柔軟で拡張性のあるテストプラットフォーム) |
| 制御ソフトウェア | LabVIEWとTestStandによる統合制御とテスト管理 |
| 機能 | 最先端のシステムレベルテストを実現 チップの多ピン化、大型化に対応 ベースユニットの増設によるセミカスタマイズ |
| 用途 | チップおよびシステムレベルの性能評価、品質保証、研究開発 |
