2026年3月3日 / 最終更新日時 : 2025年3月18日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション 汎用電源検査システムの開発 最大4台まで電源基板を同時検査（接続）することが可能で、マルチプレクサの機能を内蔵した、インタフェースBoxを介して各測定器に接続されます。NI TestStandのマルチスレッド機能を使い4台完全に独立して動作可能。
2025年9月8日 / 最終更新日時 : 2025年9月8日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション ダイレクト温調式 高温・低温検査装置 PEREX-1は、ペルチェ素子を用いた温度制御ユニットを搭載し、対象デバイスに直接接続して加熱・冷却を行う検査装置です。独自の加圧機構により、最大200kgの荷重をかけながら、精密かつ高速な温度変化を与えることができ、特 […]
2025年8月4日 / 最終更新日時 : 2025年9月22日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション ミリ波ビームフォーミングデバイス向け生産ライン用OTA自動評価システム この製品は半導体試験工程のRFテストを自動化する革新的なシステムソリューションです。電子制御式「Xbeam」を使用することで、テスト時間を数秒単位にまで短縮し、生産ラインのタクトタイムを大幅に改善します。 製品の特徴 自 […]
2025年2月26日 / 最終更新日時 : 2025年2月26日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション ワイヤレスデバイステストソリューション このソリューションはワイヤレスデバイスを対象とした自動試験計測システムです。様々なワイヤレスの規格を完全自動試験計測を行うことが可能で、ワイヤレス・デバイスシステムの生産ラインなどのカスタマイズされたアプリケーションも利 […]
2025年2月26日 / 最終更新日時 : 2025年2月26日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション 次世代高温低温測定ハンドラー 高温低温測定ハンドラーシステムは、電子機器や材料の耐久性、性能を評価するために、極端な温度条件での試験を行う為の装置です。このシステムは特に半導体デバイスやその他の電子部品の信頼性において重要な役割を果たします。 製品の […]
2025年2月26日 / 最終更新日時 : 2025年2月27日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション 自動ユニバーサルワイヤレステスト装置UWT-7000-CUSTOM 各種無線規格対応の通信機器をユニット別で全自動検査可能。またライン化などにも対応し、カスタマイズによって検査デバイスの供給→基板分割→検査→収納までの制御が可能です。 ハンドラ側仕様 供給/収納 ご要望に合わせてカスタ […]
2025年2月26日 / 最終更新日時 : 2025年2月27日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション 自動システムレベルテスト装置SLT-7000-STANDARD 最先端のシステムレベルテストを実現。チップの多ピン化、大型化に対応し、ベースユニットを増設することによりお客様の要望に合わせた構成にセミカスタマイズすることが可能です。 ハンドラ側仕様 温度コントロール 次世代ペルチェ […]
2025年2月26日 / 最終更新日時 : 2025年2月26日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション PXIを使用したICテストシステム ペリテックが提供するPXIベースのICテストシステムは、デジタルパターン計測器と高精度な電源を活用し、ICの評価を効率的に自動化できるシステムです。このシステムは、異なるICデバイスにも対応できる柔軟な構成を持ち、評価の […]
2025年2月25日 / 最終更新日時 : 2025年2月26日 岡登世菜 半導体業界向けソリューション ICテスタ用ソフトウェア開発 ICテスターのカスタマイズ可能なソフトウェアを開発しています。これにより、お客様のニーズに合わせた様々な作業が可能です。 ペリテックでは、これらの機能を含めたICテスターのカスタマイズ開発を行い、最適なテストソリューショ […]
2025年10月7日 / 最終更新日時 : 2025年3月18日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション NI SwitchをLabVIEW RTで使用したICテスタの開発 ICテスタの開発事例を紹介します。NI-SwitchとNI-DMM、PXIを使用して、コンパクトでかつノイズに強い試験装置を開発することができました。
2025年4月1日 / 最終更新日時 : 2025年3月18日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション 3V電源のICに対応したテスターの開発 3V電源のICに対応したテスターの開発事例を紹介します。端子ダイオードテスト、端子ショートテスト。電圧計測、電流計測、周波数計測、波形解析など45項目の検査を行ってICの正常動作を確認
2025年3月11日 / 最終更新日時 : 2025年2月27日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション 高速ICテスターの開発 NI PXIを駆使した高速ICテスターの開発事例を紹介します。1. セットアップ・ホールドタイム試験機能の実現。2. ファンクション試験機能の実現。3. 高速かつ大量なデータパターンの出力機能の実現。4. DCパラメータの試験機能の実現
2025年2月10日 / 最終更新日時 : 2025年1月30日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション ICテスターの開発 ICテスターの開発事例を紹介します。この試験装置は耐久試験で行うパルス幅計測と部品の抵抗値、駆動電圧値、設定電圧値の計測を行います。NI-SwitchとNI-DMM、PXIを使用して、コンパクトでかつノイズに強い試験装置を開発。
2021年8月31日 / 最終更新日時 : 2021年8月19日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション ファンクションテスタの実績 ファンクションテスタの事例紹介 1.医療機器メーカー向けファンクションテスタ 2.自動車メーカー向けECU基板生産検査装置 3.火災報知機メーカー向け火災報知設備用基板検査装置 4.パワー半導体メーカー向けインバータ制御基板検査装置
2021年4月6日 / 最終更新日時 : 2021年4月2日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション コンパクトICテスター ECOIC メタボリックは人間だけじゃない。機械だって脂肪（機能）のつきすぎには要注意。健康で元気、そしてエコロジーなICテスターができました。 ペリテックのICテスターECOIC（エコイック）シリーズ。安価で優れた拡張性を持つIC […]
2020年8月1日 / 最終更新日時 : 2024年2月28日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション 半導体テストシステム構築サービス 半導体テストシステム構築を実現するカスタマイズサービスをご提供します。ペリテックが提供する半導体テストサービスはDUTに合わせた自由度の高いテストシステムの早期構築が可能です。また、様々な半導体を対象としたテストの開発を行います。
2020年3月19日 / 最終更新日時 : 2020年7月13日 s-miyazaki リソース 既存装置と同等の機能・検査速度の低電圧ICテスタをNI社製品とLabVIEWで開発 低価格化を目指した3V電源対応テスタ クライアント名・業種：電子部品メーカー 様 導入システム・製品：3V源対応テスタ ご依頼の背景 ある電子部品メーカー様より、現在稼働しているICテスタよりも安価で、かつ同等の性能の製 […]
2020年3月10日 / 最終更新日時 : 2021年5月7日 s-miyazaki 半導体業界向けソリューション ミックスドシグナルICテスタ ECOIC-M1 アナログICからミックスドシグナルICまで幅広く対応 特徴 対象デバイス リニアIC、ミックスドシグナルIC コンパクト 本体サイズ 約W600mm×H770mm×D720mm 本体重量 約80kg 標準機能 マトリクス […]
