ミリ波ビームフォーミングデバイス向け生産ライン用OTA自動評価システム

この製品は半導体試験工程のRFテストを自動化する革新的なシステムソリューションです。電子制御式「Xbeam」を使用することで、テスト時間を数秒単位にまで短縮し、生産ラインのタクトタイムを大幅に改善します。

製品の特徴

非接触・高耐久な評価

Xbeamの採用により、機械的な可動部がほとんどなく、摩擦や故障のリスクを大幅に低減します。

製品個別のビーム特性測定

XbeamがDUTのビームパターンを高速にスキャンし、NIPXIプラットフォームが高精度に受信信号を評価します。

作業効率化と省人化

手動試験から自動評価システムへ移行することで、作業効率の大幅な向上と省人化が実現します。

トレーサビリティとカスタマイズ性

LabVIEWの直感的な開発環境により、測定項目の追加・判定閾値の変更・CUIのカスタマイズが柔軟かつ迅速。

自動試験フロー

DUTの搬送とセット
自動ハンドラが被試験デバイスを搬送し、テストソケットに正確にセットします。
試験開始とビーム制御
LabVIEWがXbeamに対し、試験レシピに基づいたビーム角度を指示します。
RF特性測定
NI PXI-VSTがミリ波信号を補捉し、EVM・RSSI・ビーム方向特性を構想に測定します。
合否判定と仕分け
測定データを自動的に比較し、合格品は次工程へ、NG品は排出トレイへ送られます。

カタログダウンロード

リソース

前の記事

LabVIEW2025 Q3 リリース
お知らせ

次の記事

NI Days Japan 2025 出展