ダイレクト温調式 高温・低温検査装置
PEREX-1は、ペルチェ素子を用いた温度制御ユニットを搭載し、対象デバイスに直接接続して加熱・冷却を行う検査装置です。独自の加圧機構により、最大200kgの荷重をかけながら、精密かつ高速な温度変化を与えることができ、特性評価・信頼性試験・スクリーニングに最適です。
主な用途
- パワーデバイスの温度特性評価
- MEMSセンサーなどの温度依存試験
- 通信モジュールの温度スクリーニング
- 車載デバイスなどの温度ストレス試験
PXI ICテストシステム
ペリテックが提供するPXIベースのICテストシステムは、デジタルパターン計測器と高精度な電源を活用し、ICの評価を効率的に自動化できるシステムです。このシステムは、異なるICデバイスにも対応できる柔軟な構成を持ち、評価の対象を自由にカスタマイズが可能です。
PEREX-1とPXI ICテストシステムを組み合わせた場合のメリット
スループット改善
PEREX-1の自動搬送、複数DUT対応とPXIによる自動テストが可能
コスト削減
自動化による人件費削減、測定時間の短縮でコスト効率のアップ
操作性の向上
測定・温調・圧力制御などをGUIで統括制御が可能
柔軟性の高い試験構成
PXIのモジュラー構成により、異なるICデバイス種別への対応が容易
動画
- ダイレクト温調式 高温・低温検査装置 紹介動画
- ダイレクト温調式 高温・低温検査装置 紹介動画 英語Ver
