近傍電磁界測定装置 EMIテスタのご紹介
ペリテックのEMIテスタの紹介プレゼンテーションを行った内容を掲載します。
主な特徴
- Ｘ，Ｙ，Ｚ，θの4軸方向に磁界/電界プローブを制御します。
- 被測定物に複雑な凹凸が有っても、自動倣い機能でプローブが至近距離を自動トレースするため、高感度・高分解能です。
- 指定周波数範囲を501～2001分割し、スペクトラムを取得します。周波数全体、及び任意の周波数範囲での電磁界強度分布とスペクトラムの表示が可能です。
- 電磁界強度分布を視点変更可能な多次元グラフィックで表示します。
EMIとその発生源
近傍磁界測定の原理
ファラデーの法則
dU=-(dD/dt)dS
Ｄ：磁束密度 Ｓ：ループ面積
D=Dm・sinωt
U = μ・ω・ Ｉ ・ S ・cosωt / Ｌ
Dm = μ・Ｈ
Ｈ = Ｉ／Ｌ
ω：角周波数
ｔ：時間
μ：透磁率
Ｌ：距離
Ｉ：電流
L⇒０，Ｓ⇒０（周囲磁界の影響 小）測定分解能の向上
EMIテスターの測定動作
磁界プローブが回転することで最大磁界の測定が可能となります。
また、その回転角度を特定できます。
近傍電磁界測定装置の構成
EMIテスターの自動倣い機構
被測定物に複雑な凹凸が有っても、磁界プローブは自動的にその凹凸をトレースします。
磁界プローブ（ W07：標準タイプ）
| 型式 | 呼称 | ループ形状 | ループのターン数 | プローブ先端径 | 周波数特性 | 用途 |
| W07 | 標準プローブ | 0.7×1.0mm | 1巻 | Φ3.4mm | 1～3,000MHz | 小型部品測定 |
磁界プローブ（ W07：標準タイプ）周波数特性
磁界プローブ（ W07：標準タイプ）の指向性
EMIテスターの配線分解能
EMIテスターの測定結果の表示
定在波（50Ω終端）
定在波（銅箔による反射）
車載機器の測定結果（4D表示）
同一機能の基板比較
車載機器の測定結果（3D表示）
高周波電流が、ケーブル接続部まで達しケーブルがアンテナとなってEMI大となった
PCBの測定例
対策前の状況:LSIの電源ピンから基板の電源パターンまで、磁界の強い部分が確認できる
原因:バイパスコンデンサの効果なし
対策内容:LSIのGNDピン近傍のべたGNDにバイパスコンデンサを移動
結果:電源パターンの強磁界範囲が、大幅に縮小した
オプション
電磁界同時測定機能
Feature特長
- 電磁界同時検出のプローブを開発、電界測定と磁界測定でのプローブ交換作業が不要。
- 広帯域の部品採用により、30MHzから3GHzまでの測定が可能。
- スペクトラムアナライザ1台で電界・磁界の自動連続測定が可能。
定在波測定
マイクロストリップライン(MSL)に1GHzの正弦波を印加し、本オプションで電界・磁界を測定した例を示します。マイクロストリップラインの片側を開放端とし定在波を線路上に発生させています。
この測定回路での結果は，開放端側で電界が最大(電圧が最大)、磁界が最小(電流が最小)であり，且つ電界と磁界が90°ずれて測定できていることが確認できます。
測定原理
電磁界プローブで検出された電磁界ノイズは，電界と磁界の分離回路により電界と磁界に分離される。コンピュータの切り換え信号により電界と磁界の切換器のリレーが選択され，電界又は磁界どちらかがスペクトラムアナライザに入力され，その強度が測定される。測定結果は，コンピュータにより測定位置情報と共に表示される。
プローブ
| 検出対象 | 型 式 | 感度(dB)@100MHz | 周波数特性 | 配線分解能(mm) |
| 磁界 | W07 (標準仕様) | -60 | 1MHz～3GHｚ | 0.70 |
| 磁界 | F-97 (高感度用) | -46 | 10MHｚ～1.5GHｚ | 3.00 |
| 電界 | W07E | -55 | 1MHz～1.5GHz | 2.00 |
プリアンプ
| 型 式 | 周波数特性 | 増幅度(dB) | ノイズ指数(dB) |
| AU-4A-0150 | 1MHz～0.5GHz | ＋60 | 1.4 |
| AM-1634-10594 | 150kHz～3GHz | ＋50 | 4.5 |
| AFS4-00010300-25-20P-6 | 10MHz～3GHz | ＋40 | 2.5 |
| AFS4-00100600-13-10P-4 | 100MHz～6GHz | ＋36 | 1.3 |
シールドボックス
仕様例
- 筐体材質 ： アルミニウム合金
- 外形寸法 ：720W×1,820H×934Ｄ
- 重量： 85ｋｇ ( 架台含む )
- 扉 ：前面・背面扉 ※前面扉は観察窓付
- 観察窓 ：電磁波遮蔽ガラス
- 筐体内への通線：最大径：Φ10mm
- 遮蔽性能：４０ｄＢ以上（ ～3GHz）
カメラ画像リンク
測定物撮影画像と測定データを重ね表示
DEMITASNX(NEC)とデータリンク
近傍電磁界測定サービス
当社が開発した近傍電磁界測定装置EMV-200を使用した近傍電磁界強度の測定サービスを開始しました。
これまで培った近傍電磁界測定の技術を生かし、プリント基板・IC等の電子機器の近傍電磁界強度分布を測定し、その測定結果を有効に活用できる高機能解析ソフトウエアをご提供いたします。
